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ATE針盤式編程
ATE設備初的使用是用于對PCB組件進行在線測試，以求發現諸如走線開路、短路，元器件缺失和元器件排列不準等制造過程中所產生的缺陷。針盤式夾具是一種陣列配置，具有彈性荷載的測試端點，它可以在PCB和ATE測試設備的信號策動電路之間形成一種機械和電氣的連接界面。
一旦PCB可靠地與針盤式夾具連接好了以后，ATE測試設備的信號策動電路將會通過針盤式夾具和PCB，發送編程信號到目標器件PIC上面。除了對機械缺陷進行測試以外，ATE設備也能夠用于對PIC器件的編程操作。對元器件的編程和消除程序被嵌入到電路板測試程序中去，從而用來對目標器件進行編程。

貼片機相關檢測設備
AOI（光學檢查機）、X-Ray檢測儀、在線測試儀（ICT）、飛針測試儀等。
相關概述
為了能夠在現如今激烈的市場競爭中贏得一席之地，電子產品制造廠商必須不斷地尋找一條能夠降低產品成本和產品導入市場的時間，與此同時又能夠不斷提升新產品質量的新路。此外還必須改善生產制造工藝和規程，電子產品制造廠商同樣也要促使半導體器件制造廠商將更多的功能溶入微型化尺寸的可編程集成電路（programmable integrated circuits 簡稱PIC）中去。于是，對于電子產品的設計和制造，走一條尺寸更小、功能更強和價格更低的道路在我們面前清晰地展示了出來。在此背景下，現如今的可編程集成電路擁有很多的引腳、具有很強的功能，并且采用了具有創新意義的組裝形式。但是希望采用PIC器件的電子產品制造廠商必須克服在進行編程過程中所遇到的一些問題。簡單地說，為了能夠順利地對PCI器件進行編程，需要學習一些新的方法。

IEEE 1149.1邊界掃描編程
為了提升PCB組件的密度和復雜性，使電路板和元器件的測試工作面臨著非常大的困難，尤其是對付空間受到限制的PCB組件。為了能夠有效的解決這一問題，一種邊界掃描測試協議(IEEE 1149.1)應運而生。
IEEE 1149.1測試標準能夠通過一臺智能化外部設備，對在組裝的電路板上的邏輯器件或者閃存器件進行編程。這種編程設備通過標準的測試訪問口(Test Access Port 簡稱TAP)與電路板形成連接界面。所有這些需要采用JTAG硬件控制裝置、JTAG軟件系統、與JTAG兼容的PCB電路板，和一個四線測試訪問口。
實現邊界掃描工作可以采用一種化的電路板上編程設備，或者采用另外一種選擇方案，利用由美國GenRad、Hewlett-Packard和Teradyne ATE testers等公司提供的一些工具，于是可以在ATE測試設備上實現IEEE 1149.1邊界掃描編程工作。
采用IEEE標準的優點就在于，它可以對在同一塊PCB上由不同供應商提供的各種各樣的元器件進行編程。這樣就可以降低整個編程時間，簡化生產制造流程。

舉例來說，如果失效是由于可編程控量突然增加，測試必須首先確定問題的根源，然后著手解決這個問題。如果說這個問題是由于元器件的問題所引起的、由于ATE編程軟件所引起的、該PCB設計所引起的，或者說是因為測試夾具所引起的呢？
這些復雜的問題可能需要花費數周的時間去分解和解決，與此同時生產線只能夠停頓下來待命。
與此形成對照的是，在器件編程領域處于位置的公司將直接與半導體供應廠商一起合作，來解決編程設備中所存在的問題，或者說自己設計設備，所以能夠較快的識別問題的根源。
產出率
一個經過良好設計的編程設備能夠提供優化的編程環境，并且能夠確?？赡艿漠a量。然而，在編程過程中存在著很小比例的器件將會失效。不同的半導體供應商之間的這個比例是不同的，編程產出率的范圍將會在99.3%到99.8%之間。自動化的編程設備被設計成能夠識別這些缺陷，于是在PCB實施裝配以前就可以將失效的元器件捕捉出來，從而實現將次品率降低到小的目的。經過比較，編程的失效率一般會高于在ATE編程環境中的。
對于制造廠商而言如果能夠事先發現問題，可以在長期的經營中減少成本支出。編程設備不僅可以擁有較低的PIC失效率，它們經過設計也可以發現編程有缺陷的PIC器件。在現實環境中作為目標的PIC器件被溶入在PCB的設計中，設計成能夠扮演另外一個角色的作用（電話、傳真、掃描儀等等），作為一種專門的編程設備可以簡單地做這些事情，而無需提供相同質量的編程環境。
供應商的管理

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